ঢাবি ভর্তি পরীক্ষায় ইলেকট্রনিক ডিভাইস ব্যবহার; পরীক্ষার্থীদের কারাদন্ড

ঢাকা বিশ্ববিদ্যালয়ের (ঢাবি) বিজ্ঞান অনুষদভুক্ত ‘ক’ ইউনিটের ভর্তি পরীক্ষায় জালিয়াতির দায়ে ১২ পরীক্ষার্থীকে ১৫ দিনের কারাদণ্ড দিয়েছেন ভ্রাম্যমাণ আদালত। ঢাকা জেলা প্রশাসক কার্যালয়ের সহকারী কমিশনার ও নির্বাহী ম্যাজিস্ট্রেট তৌহিদ এলাহী এ কারাদণ্ড দেন। বিশ্ববিদ্যালয় কর্তৃপক্ষ জানান, কারাদণ্ডপ্রাপ্তরা পরীক্ষার হলে মোবাইল ফোন ও অন্যান্য ইলেকট্রনিক ডিভাইস নিয়ে প্রবেশ করেছিল। এর মধ্যে অনেকে মাস্টার কার্ডের আদলে ডিভাইস ..বিস্তারিত